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McPhail, D. S.

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Titel:

Applications of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) in Materials Science

Beteiligte:

McPhail, D. S. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 41 ; 873-903

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

31 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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