Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Scanning tunneling microscopy investigation of atomic-scale carbon nanotube defects produced by Ar+ ion irradiation

    Neue Suche nach: Osváth, Z.
    Neue Suche nach: Vértesy, G.
    Neue Suche nach: Tapasztó, L.
    Neue Suche nach: Wéber, F.
    Neue Suche nach: Horváth, Z. E.
    Neue Suche nach: Gyulai, J.
    Neue Suche nach: Biró, L. P.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Scanning tunneling microscopy investigation of atomic-scale carbon nanotube defects produced by Ar+ ion irradiation

    Neue Suche nach: Osváth, Z.
    Neue Suche nach: Vértesy, G.
    Neue Suche nach: Tapasztó, L.
    Neue Suche nach: Wéber, F.
    Neue Suche nach: Horváth, Z. E.
    Neue Suche nach: Gyulai, J.
    Neue Suche nach: Biró, L. P.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Scanning tunneling microscopy investigation of atomic-scale carbon nanotube defects produced by Ar+ ion irradiation

    Neue Suche nach: Osváth, Z.
    Neue Suche nach: Vértesy, G.
    Neue Suche nach: Tapasztó, L.
    Neue Suche nach: Wéber, F.
    Neue Suche nach: Horváth, Z. E.
    Neue Suche nach: Gyulai, J.
    Neue Suche nach: Biró, L. P.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Scanning tunneling microscopy investigation of atomic-scale carbon nanotube defects produced by Ar+ ion irradiation

    Beteiligte:

    Osváth, Z. (Autor:in) / Vértesy, G. (Autor:in) / Tapasztó, L. (Autor:in) / Wéber, F. (Autor:in) / Horváth, Z. E. (Autor:in) / Gyulai, J. (Autor:in) / Biró, L. P. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -AMSTERDAM THEN LAUSANNE- C ; 26 ; 1194-1197

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2006

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0928-4931

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.1 / 660

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Atomic-Scale Studies of Point Defects in Compound Semiconductors by Scanning Tunneling Microscopy

    Gwo, S. / Miwa, S. / Ohno, H. et al. | British Library Online Contents | 1995

    Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy

    Cohen, Samuel H. | TIBKAT | 1994

    Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

    Cohen, Samuel H. | TIBKAT | 1997

    Scanning Tunneling Microscopy, Atomic Force Microscopy, and Related Techniques

    S. R. Snyder / H. S. White | NTIS | 1992

    Microscopic characterization of defects using scanning tunneling microscopy

    Stievenard, D. | British Library Online Contents | 2000

    Nach oben