Electronic structure of CeAl2 thin films studied by X-ray absorption spectroscopy: Fid-Bau Portal

Electronic structure of CeAl2 thin films studied by X-ray absorption spectroscopy

Dong, C. L. / Chen, C. L. / Chen, Y. Y. / Asokan, K. / Lee, J. F. / Guo, J. H. / Chang, C. L.

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Titel:

Electronic structure of CeAl2 thin films studied by X-ray absorption spectroscopy

Beteiligte:

Dong, C. L. (Autor:in) / Chen, C. L. (Autor:in) / Chen, Y. Y. (Autor:in) / Asokan, K. (Autor:in) / Lee, J. F. (Autor:in) / Guo, J. H. (Autor:in) / Chang, C. L. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 5372-5375

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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