Effect of interface traps on Debye thickness semiconductor films: Fid-Bau Portal

Effect of interface traps on Debye thickness semiconductor films

Sandomirsky, V. / Butenko, A. V. / Kolobov, I. G. / Ronen, A. / Schlesinger, Y.

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Titel:

Effect of interface traps on Debye thickness semiconductor films

Beteiligte:

Sandomirsky, V. (Autor:in) / Butenko, A. V. (Autor:in) / Kolobov, I. G. (Autor:in) / Ronen, A. (Autor:in) / Schlesinger, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 5793-5802

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

10 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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