High throughput screening of novel oxide conductors using SIMS: Fid-Bau Portal

High throughput screening of novel oxide conductors using SIMS

Fearn, S. / Rossiny, J. C. / Kilner, J. A. / Zhang, Y. / Chen, L.

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Titel:

High throughput screening of novel oxide conductors using SIMS

Beteiligte:

Fearn, S. (Autor:in) / Rossiny, J. C. (Autor:in) / Kilner, J. A. (Autor:in) / Zhang, Y. (Autor:in) / Chen, L. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 7159-7162

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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