Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) for high-throughput characterization of biosurfaces: Fid-Bau Portal

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) for high-throughput characterization of biosurfaces

Roberson, S. / Sehgal, A. / Fahey, A. / Karim, A.

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Titel:

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) for high-throughput characterization of biosurfaces

Beteiligte:

Roberson, S. (Autor:in) / Sehgal, A. (Autor:in) / Fahey, A. (Autor:in) / Karim, A. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 203-204 ; 855-858

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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