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    Titel:

    Important increase of negative secondary ion sensitivity during SIMS analysis by neutral cesium deposition

    Beteiligte:

    Philipp, P. (Autor:in) / Wirtz, T. (Autor:in) / Migeon, H. N. (Autor:in) / Scherrer, H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 7205-7207

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2006

    Format / Umfang:

    3 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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