Cesium redeposition artifacts during low energy ToF-SIMS depth profiling: Fid-Bau Portal

Cesium redeposition artifacts during low energy ToF-SIMS depth profiling

Vitchev, R. G. / Brison, J. / Houssiau, L.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Cesium redeposition artifacts during low energy ToF-SIMS depth profiling

Vitchev, R. G. / Brison, J. / Houssiau, L.

Cesium redeposition artifacts during low energy ToF-SIMS depth profiling

Vitchev, R. G. / Brison, J. / Houssiau, L.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Cesium redeposition artifacts during low energy ToF-SIMS depth profiling

Beteiligte:

Vitchev, R. G. (Autor:in) / Brison, J. (Autor:in) / Houssiau, L. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 255 ; 7586-7589

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

Chanbasha, A. R. / Wee, A. T. | British Library Online Contents | 2008

Ultra Shallow Depth Profiling with SIMS

Ehrke, H.-U. | British Library Online Contents | 2008

TOF-SIMS depth profiling of SIMON

Xin, G. / Dong, G. / Xu, C. et al. | British Library Online Contents | 2003

SIMS depth profiling of SiGe:C structures in test pattern areas using low energy cesium with a Cameca IMS Wf

Juhel, M. / Laugier, F. | British Library Online Contents | 2004

SIMS depth profiling of working environment nanoparticles

Konarski, P. / Iwanejko, I. / Mierzejewska, A. | British Library Online Contents | 2003

Nach oben