Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Caesium sputter ion source compatible with commercial SIMS instruments

    Neue Suche nach: Belykh, S. F.
    Neue Suche nach: Palitsin, V. V.
    Neue Suche nach: Veryovkin, I. V.
    Neue Suche nach: Kovarsky, A. P.
    Neue Suche nach: Chang, R. J.
    Neue Suche nach: Adriaens, A.
    Neue Suche nach: Dowsett, M.
    Neue Suche nach: Adams, F.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Caesium sputter ion source compatible with commercial SIMS instruments

    Neue Suche nach: Belykh, S. F.
    Neue Suche nach: Palitsin, V. V.
    Neue Suche nach: Veryovkin, I. V.
    Neue Suche nach: Kovarsky, A. P.
    Neue Suche nach: Chang, R. J.
    Neue Suche nach: Adriaens, A.
    Neue Suche nach: Dowsett, M.
    Neue Suche nach: Adams, F.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Caesium sputter ion source compatible with commercial SIMS instruments

    Neue Suche nach: Belykh, S. F.
    Neue Suche nach: Palitsin, V. V.
    Neue Suche nach: Veryovkin, I. V.
    Neue Suche nach: Kovarsky, A. P.
    Neue Suche nach: Chang, R. J.
    Neue Suche nach: Adriaens, A.
    Neue Suche nach: Dowsett, M.
    Neue Suche nach: Adams, F.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Caesium sputter ion source compatible with commercial SIMS instruments

    Beteiligte:

    Belykh, S. F. (Autor:in) / Palitsin, V. V. (Autor:in) / Veryovkin, I. V. (Autor:in) / Kovarsky, A. P. (Autor:in) / Chang, R. J. (Autor:in) / Adriaens, A. (Autor:in) / Dowsett, M. (Autor:in) / Adams, F. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 7321-7325

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2006

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    The caesium enhancement effect observed during SIMS ultra shallow depth profile analysis of SiO2 on Si

    van der Heide, P. A. | British Library Online Contents | 2000

    Magnetic Field in a Commercial Sputter Magnetron

    Murphy, M. J. / Monaghan, J. / Cameron, D. C. et al. | British Library Online Contents | 1996

    Combined ToF-SIMS and XPS characterization of 304L surface after interaction with caesium iodide under PWR severe accident conditions

    Obada, Dorel / Mamede, Anne-Sophie / Nuns, Nicolas et al. | British Library Online Contents | 2018

    Determination of the variation in sputter yield in the SIMS transient region using MEIS

    Dowsett, M. G. / Ormsby, T. J. / Gard, F. S. et al. | British Library Online Contents | 2003

    Combined ToF-SIMS and XPS characterization of 304L surface after interaction with caesium iodide under PWR severe accident conditions

    Obada, Dorel / Mamede, Anne-Sophie / Nuns, Nicolas et al. | British Library Online Contents | 2018

    Nach oben