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    Titel:

    Determination of the variation in sputter yield in the SIMS transient region using MEIS

    Beteiligte:

    Dowsett, M. G. (Autor:in) / Ormsby, T. J. (Autor:in) / Gard, F. S. (Autor:in) / Al-Harthi, S. H. (Autor:in) / Guzman, B. (Autor:in) / McConville, C. F. (Autor:in) / Noakes, T. C. (Autor:in) / Bailey, P. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 203-204 ; 363-366

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2003

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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