The Negative Effect of High-Temperature Annealing on Charge-Carrier Lifetimes in Microcrystalline PCBM: Fid-Bau Portal

The Negative Effect of High-Temperature Annealing on Charge-Carrier Lifetimes in Microcrystalline PCBM

Warman, J. M. / de Haas, M. P. / Anthopoulos, T. D. / de Leeuw, D. M.

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Titel:

The Negative Effect of High-Temperature Annealing on Charge-Carrier Lifetimes in Microcrystalline PCBM

Beteiligte:

Warman, J. M. (Autor:in) / de Haas, M. P. (Autor:in) / Anthopoulos, T. D. (Autor:in) / de Leeuw, D. M. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH THEN WEINHEIM- ; 18 ; 2294-2298

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0935-9648

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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