An X-Ray Diffraction Method to Determine Stress at Constant Penetration/Information Depth: Fid-Bau Portal

An X-Ray Diffraction Method to Determine Stress at Constant Penetration/Information Depth

Kumar, A. / Welzel, U. / Wohlschlogel, M. / Baumann, W. / Mittemeijer, E. J.

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Titel:

An X-Ray Diffraction Method to Determine Stress at Constant Penetration/Information Depth

Beteiligte:

Kumar, A. (Autor:in) / Welzel, U. (Autor:in) / Wohlschlogel, M. (Autor:in) / Baumann, W. (Autor:in) / Mittemeijer, E. J. (Autor:in) / Reimers, W. / Quander, S.

Erschienen in:

Residual Stresses VII: ECRS 7 - Proceedings of the 7^t^h European Conference on Residual Stresses Berlin, Germany, 13-15 September 2006 ; 13-18

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 524/525

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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