Overlapping Shockley/Frank Faults in 4H-SiC PiN Diodes: Fid-Bau Portal

Overlapping Shockley/Frank Faults in 4H-SiC PiN Diodes

Twigg, M. E. / Stahlbush, R. E. / Losee, P. A. / Li, C. H. / Bhat, I. B. / Chow, T. P.

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Titel:

Overlapping Shockley/Frank Faults in 4H-SiC PiN Diodes

Beteiligte:

Twigg, M. E. (Autor:in) / Stahlbush, R. E. (Autor:in) / Losee, P. A. (Autor:in) / Li, C. H. (Autor:in) / Bhat, I. B. (Autor:in) / Chow, T. P. (Autor:in) / Devaty, R. P. / Larkin, D. J. / Saddow, S. E.

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials - 2005 ; 383-386

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 527/529

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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