Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Ultrahigh Vacuum Non-Contact Atomic Force Microscope Observation of Reconstructed Si(110) Surface

    Neue Suche nach: Miyachi, A.
    Neue Suche nach: Sone, H.
    Neue Suche nach: Hosaka, S.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Ultrahigh Vacuum Non-Contact Atomic Force Microscope Observation of Reconstructed Si(110) Surface

    Neue Suche nach: Miyachi, A.
    Neue Suche nach: Sone, H.
    Neue Suche nach: Hosaka, S.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Ultrahigh Vacuum Non-Contact Atomic Force Microscope Observation of Reconstructed Si(110) Surface

    Neue Suche nach: Miyachi, A.
    Neue Suche nach: Sone, H.
    Neue Suche nach: Hosaka, S.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Ultrahigh Vacuum Non-Contact Atomic Force Microscope Observation of Reconstructed Si(110) Surface

    Beteiligte:

    Miyachi, A. (Autor:in) / Sone, H. (Autor:in) / Hosaka, S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS TRANSACTIONS ; 47 ; 2595-2598

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2006

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    1345-9678

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    High resolution imaging of contact potential difference using a novel ultrahigh vacuum non-contact atomic force microscope technique

    Kitamura, S. / Suzuki, K. / Iwatsuki, M. | British Library Online Contents | 1999

    Development of low temperature ultrahigh vacuum noncontact atomic force microscope with PZT cantilever

    Suehira, N. / Tomiyoshi, Y. / Sugiyama, K. et al. | British Library Online Contents | 2000

    Tip cleaning and sharpening processes for noncontact atomic force microscope in ultrahigh vacuum

    Tomitori, M. / Arai, T. | British Library Online Contents | 1999

    Imaging reconstructed TiO2 surfaces with non-contact atomic force microscopy

    Pang, C. L. / Raza, H. / Haycock, S. A. et al. | British Library Online Contents | 2000

    Observation of Si(100) surface with noncontact atomic force microscope at 5K

    Uozumi, T. / Tomiyoshi, Y. / Suehira, N. et al. | British Library Online Contents | 2002

    Nach oben