A deep-level transient spectroscopy study of transition metals in n-type germanium: Fid-Bau Portal

A deep-level transient spectroscopy study of transition metals in n-type germanium

Forment, S. / Vanhellemont, J. / Clauws, P. / Van Steenbergen, J. / Sioncke, S. / Meuris, M. / Simoen, E. / Theuwis, A.

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Titel:

A deep-level transient spectroscopy study of transition metals in n-type germanium

Beteiligte:

Forment, S. (Autor:in) / Vanhellemont, J. (Autor:in) / Clauws, P. (Autor:in) / Van Steenbergen, J. (Autor:in) / Sioncke, S. (Autor:in) / Meuris, M. (Autor:in) / Simoen, E. (Autor:in) / Theuwis, A. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING ; 9 ; 559-563

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

1369-8001

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.38152

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