Transmission electron microscopy investigation of interfacial reactions between SrFeO~3 thin films and silicon substrates: Fid-Bau Portal

Transmission electron microscopy investigation of interfacial reactions between SrFeO~3 thin films and silicon substrates

Wang, D. / Tunney, J. J. / Du, X. / Post, M. L. / Gauvin, R.

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Titel:

Transmission electron microscopy investigation of interfacial reactions between SrFeO~3 thin films and silicon substrates

Beteiligte:

Wang, D. (Autor:in) / Tunney, J. J. (Autor:in) / Du, X. (Autor:in) / Post, M. L. (Autor:in) / Gauvin, R. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH THEN WARRENDALE- ; 22 ; 76-88

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

13 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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