In-Situ Transmission Electron Microscopy Investigation of the Interfacial Reaction between Er and SiO~2 Films: Fid-Bau Portal

In-Situ Transmission Electron Microscopy Investigation of the Interfacial Reaction between Er and SiO~2 Films

Choi, C.-J. / Kang, S.-M. / Hong, H.-B. / Lee, S.-H. / Kim, J.-G. / Ahn, K.-S. / Yoon, J.-W.

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Titel:

In-Situ Transmission Electron Microscopy Investigation of the Interfacial Reaction between Er and SiO~2 Films

Beteiligte:

Choi, C.-J. (Autor:in) / Kang, S.-M. (Autor:in) / Hong, H.-B. (Autor:in) / Lee, S.-H. (Autor:in) / Kim, J.-G. (Autor:in) / Ahn, K.-S. (Autor:in) / Yoon, J.-W. (Autor:in)

Erschienen in:

Crystallographic Orientation Distribution and Related Properties in Advanced Materials II ; 793-798

MATERIALS TRANSACTIONS ; 51

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

1345-9678

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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