A calibrated atomic force microscope using an orthogonal scanner and a calibrated laser interferometer: Fid-Bau Portal

A calibrated atomic force microscope using an orthogonal scanner and a calibrated laser interferometer

Lee, D. Y. / Kim, D. M. / Gweon, D. G. / Park, J.

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Titel:

A calibrated atomic force microscope using an orthogonal scanner and a calibrated laser interferometer

Beteiligte:

Lee, D. Y. (Autor:in) / Kim, D. M. (Autor:in) / Gweon, D. G. (Autor:in) / Park, J. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 253 ; 3945-3951

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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