Force-Calibrated AFM for Mechanical Test of Freestanding Thin Films: Fid-Bau Portal

Force-Calibrated AFM for Mechanical Test of Freestanding Thin Films

Lee, H. J. / Cho, K. H. / Kim, J. H. / Han, S. W. / Choi, B. I. / Baek, C. W. / Kim, J. M. / Choa, S. H.

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Titel:

Force-Calibrated AFM for Mechanical Test of Freestanding Thin Films

Beteiligte:

Lee, H. J. (Autor:in) / Cho, K. H. (Autor:in) / Kim, J. H. (Autor:in) / Han, S. W. (Autor:in) / Choi, B. I. (Autor:in) / Baek, C. W. (Autor:in) / Kim, J. M. (Autor:in) / Choa, S. H. (Autor:in) / Kim, Y.-J. / Bae, D.-H.

Erschienen in:

Advances in Fracture and Strength ; 275-279

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 297/300

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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