Grain Size and Orientation Control in Lead-Free (Bi,La)~4Ti~3O~1~2 Thin Film Deposited by Spin-On Method for High Density FeRAM Device: Fid-Bau Portal

Grain Size and Orientation Control in Lead-Free (Bi,La)~4Ti~3O~1~2 Thin Film Deposited by Spin-On Method for High Density FeRAM Device

Kim, Y. M. / Jang, G. E. / Kim, N. K. / Yeom, S. J. / Kweon, S. Y.

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Kim, Y. M. / Jang, G. E. / Kim, N. K. / Yeom, S. J. / Kweon, S. Y.

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Titel:

Grain Size and Orientation Control in Lead-Free (Bi,La)~4Ti~3O~1~2 Thin Film Deposited by Spin-On Method for High Density FeRAM Device

Beteiligte:

Kim, Y. M. (Autor:in) / Jang, G. E. (Autor:in) / Kim, N. K. (Autor:in) / Yeom, S. J. (Autor:in) / Kweon, S. Y. (Autor:in) / Kim, H. / Hojo, J. / Lee, S. W.

Erschienen in:

Eco-Materials Processing and Design VIII ; 577-580

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 544/545

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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