Residual Stress Analysis of Epoxy Coating/Substrate System Using Curvature Measurement Method: Fid-Bau Portal

Residual Stress Analysis of Epoxy Coating/Substrate System Using Curvature Measurement Method

Lee, S. S. / Jeon, I. W. / Chang, Y. C.

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Titel:

Residual Stress Analysis of Epoxy Coating/Substrate System Using Curvature Measurement Method

Beteiligte:

Lee, S. S. (Autor:in) / Jeon, I. W. (Autor:in) / Chang, Y. C. (Autor:in) / Nam, S. W. / Chang, Y. W. / Lee, S. B. / Kim, N. J.

Erschienen in:

The Mechanical Behavior of Materials X ; 793-796

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 345/346

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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