Stress Measurement of Thin Films by Substrate Curvature Method: Fid-Bau Portal

Stress Measurement of Thin Films by Substrate Curvature Method

An, B. / Zhang, T.-j. / Yuan, C.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Stress Measurement of Thin Films by Substrate Curvature Method

An, B. / Zhang, T.-j. / Yuan, C.

Stress Measurement of Thin Films by Substrate Curvature Method

An, B. / Zhang, T.-j. / Yuan, C.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Stress Measurement of Thin Films by Substrate Curvature Method

Beteiligte:

An, B. (Autor:in) / Zhang, T.-j. (Autor:in) / Yuan, C. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS PROTECTION -WUHAN- ; 36 ; 13-15

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

1001-1560

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.1

Di, Y. X. / Ji, X. H. / Hu, M. et al. | British Library Online Contents | 2006

Residual Stress Analysis of Epoxy Coating/Substrate System Using Curvature Measurement Method

Lee, S. S. / Jeon, I. W. / Chang, Y. C. | British Library Online Contents | 2007

Surface Residual Stress Measurement Using Curvature Interferometry

Wang, J. / Shrotriya, P. / Kim, K. S. | British Library Online Contents | 2006

Measurement of full-field curvature and geometrical instability of thin film-substrate systems through CGS interferometry

Park, T. S. / Suresh, S. / Rosakis, A. J. et al. | British Library Online Contents | 2003

Prediction of Residual Stress Distribution in Multi-Stacked Thin Film by Curvature Measurement and Iterative FEA

Choi, H. C. / Park, J.-H. | British Library Online Contents | 2005

Nach oben