Observation of V Defects in Multiple InGaN/GaN Quantum Well Layers: Fid-Bau Portal

Observation of V Defects in Multiple InGaN/GaN Quantum Well Layers

Tsai, H.-L. / Wang, T.-Y. / Yang, J.-R. / Chuo, C.-C. / Hsu, J.-T. / Feng, Z.-C. / Shiojiri, M.

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Titel:

Observation of V Defects in Multiple InGaN/GaN Quantum Well Layers

Beteiligte:

Tsai, H.-L. (Autor:in) / Wang, T.-Y. (Autor:in) / Yang, J.-R. (Autor:in) / Chuo, C.-C. (Autor:in) / Hsu, J.-T. (Autor:in) / Feng, Z.-C. (Autor:in) / Shiojiri, M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS TRANSACTIONS ; 48 ; 894-898

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

1345-9678

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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