Characterization of Electronic Charged States of Nickel Silicide Nanodots Using AFM/Kelvin Probe Technique: Fid-Bau Portal

Characterization of Electronic Charged States of Nickel Silicide Nanodots Using AFM/Kelvin Probe Technique

Nishihara, R. / Makihara, K. / Kawaguchi, Y. / Ikeda, M. / Murakami, H. / Higashi, S. / Miyazaki, S.

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Titel:

Characterization of Electronic Charged States of Nickel Silicide Nanodots Using AFM/Kelvin Probe Technique

Beteiligte:

Nishihara, R. (Autor:in) / Makihara, K. (Autor:in) / Kawaguchi, Y. (Autor:in) / Ikeda, M. (Autor:in) / Murakami, H. (Autor:in) / Higashi, S. (Autor:in) / Miyazaki, S. (Autor:in) / Chang, Y.W. / Kim, N.J. / Lee, C.S.

Erschienen in:

PRICM 6: Selected, peer reviewed papers from The Sixth Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing, November 5-9, 2007, ICC Jeju, Jeju Island, Korea ; 1213-1216

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 561/565

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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