Estimation of lattice strain in nanocrystalline silver from X-ray diffraction line broadening: Fid-Bau Portal

Estimation of lattice strain in nanocrystalline silver from X-ray diffraction line broadening

Biju, V. / Sugathan, N. / Vrinda, V. / Salini, S. L.

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Titel:

Estimation of lattice strain in nanocrystalline silver from X-ray diffraction line broadening

Beteiligte:

Biju, V. (Autor:in) / Sugathan, N. (Autor:in) / Vrinda, V. (Autor:in) / Salini, S. L. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 43 ; 1175-1179

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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