Grain-size stabilization by impurities and effect on stress-coupled grain growth in nanocrystalline Al thin films: Fid-Bau Portal

Grain-size stabilization by impurities and effect on stress-coupled grain growth in nanocrystalline Al thin films

Gianola, D. S. / Mendis, B. G. / Cheng, X. M. / Hemker, K. J.

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Titel:

Grain-size stabilization by impurities and effect on stress-coupled grain growth in nanocrystalline Al thin films

Beteiligte:

Gianola, D. S. (Autor:in) / Mendis, B. G. (Autor:in) / Cheng, X. M. (Autor:in) / Hemker, K. J. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A ; 483/484 ; 637-640

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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