Effects of thermal annealing on the microstructural properties of the lower region in ZnO thin films grown on n-Si (001) substrates: Fid-Bau Portal

Effects of thermal annealing on the microstructural properties of the lower region in ZnO thin films grown on n-Si (001) substrates

Yuk, J.M. / Lee, J.Y. / Kim, T.W. / Son, D.I. / Choi, W.K.

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Titel:

Effects of thermal annealing on the microstructural properties of the lower region in ZnO thin films grown on n-Si (001) substrates

Beteiligte:

Yuk, J.M. (Autor:in) / Lee, J.Y. (Autor:in) / Kim, T.W. (Autor:in) / Son, D.I. (Autor:in) / Choi, W.K. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH THEN WARRENDALE- ; 23 ; 1082-1086

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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