Scanning Tunneling Microscopy of Cubic Silicon Carbide Surfaces. (Reannouncement with New Availability Information): Fid-Bau Portal

Scanning Tunneling Microscopy of Cubic Silicon Carbide Surfaces. (Reannouncement with New Availability Information)

C. S. Chang / N. J. Zheng / I. S. Tsong / Y. C. Wang / R. F. Davis

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Dokumentinformationen

Titel:

Scanning Tunneling Microscopy of Cubic Silicon Carbide Surfaces. (Reannouncement with New Availability Information)

Beteiligte:

C. S. Chang (Autor:in) / N. J. Zheng (Autor:in) / I. S. Tsong (Autor:in) / Y. C. Wang (Autor:in) / R. F. Davis (Autor:in)

Erscheinungsdatum:

1990

Format / Umfang:

6 pages

Medientyp:

Report

Format:

Keine Angabe

Sprache:

Englisch

Schlagwörter:

S. R. Snyder / H. S. White | NTIS | 1992

C. S. Chang / N. J. Zheng / I. S. Tsong et al. | NTIS | 1991

Busiakiewicz, A. / Klusek, Z. / Huczko, A. et al. | British Library Online Contents | 2008

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C. M. Hoffmann / J. Hopcroft | NTIS | 1988