Effect of dislocation source length on yield strength of nanostructured metallic multilayer thin films: Fid-Bau Portal

Effect of dislocation source length on yield strength of nanostructured metallic multilayer thin films

Li, Q.

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Titel:

Effect of dislocation source length on yield strength of nanostructured metallic multilayer thin films

Beteiligte:

Li, Q. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A ; 493 ; 288-291

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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