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Critical distance for secondary ion formation: Experimental SIMS measurements

Kudriavtsev, Y. / Gallardo, S. / Villegas, A. / Ramirez, G. / Asomoza, R.

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Titel:

Critical distance for secondary ion formation: Experimental SIMS measurements

Beteiligte:

Kudriavtsev, Y. (Autor:in) / Gallardo, S. (Autor:in) / Villegas, A. (Autor:in) / Ramirez, G. (Autor:in) / Asomoza, R. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 255 ; 877-879

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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