Imaging subcellular features of a sectioned rat brain using time-of-flight secondary ion mass spectrometry and scanning probe microscopy: Fid-Bau Portal

Imaging subcellular features of a sectioned rat brain using time-of-flight secondary ion mass spectrometry and scanning probe microscopy

Nie, H. Y. / Francis, J. T. / Taylor, A. R. / Walzak, M. J. / Chang, W. H. / MacFabe, D. F. / Lau, W. M.

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Titel:

Imaging subcellular features of a sectioned rat brain using time-of-flight secondary ion mass spectrometry and scanning probe microscopy

Beteiligte:

Nie, H. Y. (Autor:in) / Francis, J. T. (Autor:in) / Taylor, A. R. (Autor:in) / Walzak, M. J. (Autor:in) / Chang, W. H. (Autor:in) / MacFabe, D. F. (Autor:in) / Lau, W. M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 255 ; 1079-1083

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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