High-resolution X-ray diffraction by end of range defects in self-amorphized Ge: Fid-Bau Portal

High-resolution X-ray diffraction by end of range defects in self-amorphized Ge

Bisognin, G. / Vangelista, S. / Bruno, E.

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Titel:

High-resolution X-ray diffraction by end of range defects in self-amorphized Ge

Beteiligte:

Bisognin, G. (Autor:in) / Vangelista, S. (Autor:in) / Bruno, E. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B ADVANCED FUNCTIONAL SOLID STATE MATERIALS ; 154-155 ; 64-67

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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