Determination of Ambipolar Lifetime and Epilayer Thickness of 5kV SiC Bipolar Devices by Transient Switching Studies: Fid-Bau Portal

Determination of Ambipolar Lifetime and Epilayer Thickness of 5kV SiC Bipolar Devices by Transient Switching Studies

Salah, T.B. / Risaletto, S. / Raynaud, C. / Besbes, K. / Bergogne, D. / Planson, D. / Morel, H.

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Titel:

Determination of Ambipolar Lifetime and Epilayer Thickness of 5kV SiC Bipolar Devices by Transient Switching Studies

Beteiligte:

Salah, T.B. (Autor:in) / Risaletto, S. (Autor:in) / Raynaud, C. (Autor:in) / Besbes, K. (Autor:in) / Bergogne, D. (Autor:in) / Planson, D. (Autor:in) / Morel, H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 600/603 ; 1031-1034

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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