Study of Compensation Defects and Electron Irradiation-Induced Defects in Undoped SI-InP by Positron Lifetime Spectroscopy: Fid-Bau Portal

Study of Compensation Defects and Electron Irradiation-Induced Defects in Undoped SI-InP by Positron Lifetime Spectroscopy

Zhang, Y.J. / Deng, A.H. / Zhao, Y.W. / Yu, J. / Yu, X.X. / Cheng, X. / Zhou, Y.L. / Long, J.J.

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Titel:

Study of Compensation Defects and Electron Irradiation-Induced Defects in Undoped SI-InP by Positron Lifetime Spectroscopy

Beteiligte:

Zhang, Y.J. (Autor:in) / Deng, A.H. (Autor:in) / Zhao, Y.W. (Autor:in) / Yu, J. (Autor:in) / Yu, X.X. (Autor:in) / Cheng, X. (Autor:in) / Zhou, Y.L. (Autor:in) / Long, J.J. (Autor:in) / Wang, S.J. / Chen, Z.Q.

Erschienen in:

Positron and Positronium Chemistry ; 134-136

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 607

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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