Spectroscopic ellipsometry of SiO2/CdTe nanocomposite thin films prepared by dc magnetron sputtering: Fid-Bau Portal

Spectroscopic ellipsometry of SiO2/CdTe nanocomposite thin films prepared by dc magnetron sputtering

Bera, S. K. / Bhattacharyya, D. / Ghosh, R. / Paul, G. K.

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Titel:

Spectroscopic ellipsometry of SiO2/CdTe nanocomposite thin films prepared by dc magnetron sputtering

Beteiligte:

Bera, S. K. (Autor:in) / Bhattacharyya, D. (Autor:in) / Ghosh, R. (Autor:in) / Paul, G. K. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 255 ; 6634-6640

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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