Improved electromigration reliability of surface acoustic wave devices using Ti/Al-Mo/Ti/Al-Mo electrodes: Fid-Bau Portal

Improved electromigration reliability of surface acoustic wave devices using Ti/Al-Mo/Ti/Al-Mo electrodes

Li, D. / Liu, M.

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Titel:

Improved electromigration reliability of surface acoustic wave devices using Ti/Al-Mo/Ti/Al-Mo electrodes

Beteiligte:

Li, D. (Autor:in) / Liu, M. (Autor:in)

Erschienen in:

RARE METALS -BEIJING- ENGLISH EDITION ; 28 ; 554-558

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

1001-0521

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 669

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