Correlation between surface whisker growth and interfacial precipitation in aluminum thin films on silicon substrates: Fid-Bau Portal

Correlation between surface whisker growth and interfacial precipitation in aluminum thin films on silicon substrates

Dutta, I. / Burkhard, M. / Kuwano, S. / Fujita, T. / Chen, M. W.

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Titel:

Correlation between surface whisker growth and interfacial precipitation in aluminum thin films on silicon substrates

Beteiligte:

Dutta, I. (Autor:in) / Burkhard, M. (Autor:in) / Kuwano, S. (Autor:in) / Fujita, T. (Autor:in) / Chen, M. W. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 45 ; 3367-3374

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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