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    Titel:

    Extended Crystallographic Defects in Gallium Nitride

    Beteiligte:

    Dasilva, Y.A.R. (Autor:in) / Ruterana, P. (Autor:in) / Lahourcade, L. (Autor:in) / Monroy, E. (Autor:in) / Nataf, G. (Autor:in) / Ponce, A. / Bueno, D.

    Erschienen in:

    Advanced Electron Microscopy and Nanomaterials Selected, peer reviewed papers from the First Joint Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials and the Workshop on Nanomaterials (AEM-NANOMAT'09), Saltillo (Coahuila) Mexico, September 29th-October 2nd, 2009 ; 117-122

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 644

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2010

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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