Characterization of Defects in Semi-Insulating 6H-SiC Substrates Using IR Thermal Imaging Camera: Fid-Bau Portal

Characterization of Defects in Semi-Insulating 6H-SiC Substrates Using IR Thermal Imaging Camera

Lee, K.Y. / Miyazaki, H. / Okamoto, Y. / Morimoto, J.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Characterization of Defects in Semi-Insulating 6H-SiC Substrates Using IR Thermal Imaging Camera

Lee, K.Y. / Miyazaki, H. / Okamoto, Y. / Morimoto, J.

Characterization of Defects in Semi-Insulating 6H-SiC Substrates Using IR Thermal Imaging Camera

Lee, K.Y. / Miyazaki, H. / Okamoto, Y. / Morimoto, J.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Characterization of Defects in Semi-Insulating 6H-SiC Substrates Using IR Thermal Imaging Camera

Beteiligte:

Lee, K.Y. (Autor:in) / Miyazaki, H. (Autor:in) / Okamoto, Y. (Autor:in) / Morimoto, J. (Autor:in) / Bauer, A.J. / Friedrichs, P. / Krieger, M. / Pensl, G. / Rupp, R. / Seyller, T.

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials 2009 ; 559-564

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 645/648

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Son, N. T. / Magnusson, B. / Zolnai, Z. et al. | British Library Online Contents | 2003

Electrical Characterization of Semi-Insulating 6H-SiC Substrates

Sanchez, E. / Wan, J. / Wang, S. et al. | British Library Online Contents | 2004

Thermal Evolution of Defects in Semi-Insulating 4H SiC

Carlos, W. E. / Glaser, E. R. / Garces, N. Y. et al. | British Library Online Contents | 2006

HTCVD Grown Semi-Insulating SiC Substrates

Ellison, A. / Magnusson, B. / Son, N. T. et al. | British Library Online Contents | 2003

Defects in High-Purity Semi-Insulating SiC

Son, N. T. / Magnusson, B. / Zolnai, Z. et al. | British Library Online Contents | 2004

Nach oben