Effect of Young's modulus evolution on residual stress measurement of thermal barrier coatings by X-ray diffraction: Fid-Bau Portal

Effect of Young's modulus evolution on residual stress measurement of thermal barrier coatings by X-ray diffraction

Chen, Q. / Mao, W. G. / Zhou, Y. C. / Lu, C.

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Titel:

Effect of Young's modulus evolution on residual stress measurement of thermal barrier coatings by X-ray diffraction

Beteiligte:

Chen, Q. (Autor:in) / Mao, W. G. (Autor:in) / Zhou, Y. C. (Autor:in) / Lu, C. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 256 ; 7311-7315

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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