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    Titel:

    Nano-Pattern Recognition and Correlation Technique for Sub-Nanometer In-Plane Displacement Measurement

    Beteiligte:

    Bi, H. (Autor:in) / Jang, C. (Autor:in) / Han, B. (Autor:in)

    Erschienen in:

    EXPERIMENTAL MECHANICS ; 50 ; 1169-1181

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2010

    Format / Umfang:

    13 pages

    ISSN:

    0014-4851

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.1

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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