Revealing Buried Interfaces to Understand the Origins of Threshold Voltage Shifts in Organic Field Effect Transistors: Fid-Bau Portal

Revealing Buried Interfaces to Understand the Origins of Threshold Voltage Shifts in Organic Field Effect Transistors

Mathijssen, S. G. / Spijkman, M. J. / Andringa, A. M. / van Hal, P. A. / McCulloch, I. / Kemerink, M. / Janssen, R. A. / de Leeuw, D. M.

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Titel:

Revealing Buried Interfaces to Understand the Origins of Threshold Voltage Shifts in Organic Field Effect Transistors

Beteiligte:

Mathijssen, S. G. (Autor:in) / Spijkman, M. J. (Autor:in) / Andringa, A. M. (Autor:in) / van Hal, P. A. (Autor:in) / McCulloch, I. (Autor:in) / Kemerink, M. (Autor:in) / Janssen, R. A. (Autor:in) / de Leeuw, D. M. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH THEN WEINHEIM- ; 22 ; 5105-5109

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0935-9648

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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