EELS and Ab-Initio Study of Faceted CSL Boundary in Silicon: Fid-Bau Portal

EELS and Ab-Initio Study of Faceted CSL Boundary in Silicon

Sakaguchi, N. / Miyake, M. / Watanabe, S. / Takahashi, H.

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Titel:

EELS and Ab-Initio Study of Faceted CSL Boundary in Silicon

Beteiligte:

Sakaguchi, N. (Autor:in) / Miyake, M. (Autor:in) / Watanabe, S. (Autor:in) / Takahashi, H. (Autor:in)

Erschienen in:

New Trends for Micro- and Nano Analyses ; 276-279

MATERIALS TRANSACTIONS ; 52

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1345-9678

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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