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    Titel:

    The Early Stage of Dislocation Process around a Crack Tip Observed by HVEM-Tomography in Silicon Single Crystals

    Beteiligte:

    Tanaka, M. (Autor:in) / Sadamatsu, S. (Autor:in) / Nakamura, H. (Autor:in) / Higashida, K. (Autor:in)

    Erschienen in:

    New Trends for Micro- and Nano Analyses ; 352-357

    MATERIALS TRANSACTIONS ; 52

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2011

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    1345-9678

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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