Conductive Atomic Force Microscope Nanopatterning of Epitaxial Graphene on SiC(0001) in Ambient Conditions: Fid-Bau Portal

Conductive Atomic Force Microscope Nanopatterning of Epitaxial Graphene on SiC(0001) in Ambient Conditions

Alaboson, J. M. / Wang, Q. H. / Kellar, J. A. / Park, J. / Elam, J. W. / Pellin, M. J. / Hersam, M. C.

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Titel:

Conductive Atomic Force Microscope Nanopatterning of Epitaxial Graphene on SiC(0001) in Ambient Conditions

Beteiligte:

Alaboson, J. M. (Autor:in) / Wang, Q. H. (Autor:in) / Kellar, J. A. (Autor:in) / Park, J. (Autor:in) / Elam, J. W. (Autor:in) / Pellin, M. J. (Autor:in) / Hersam, M. C. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH THEN WEINHEIM- ; 23 ; 2181-2184

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0935-9648

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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