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    Titel:

    In situ X-ray photoelectron spectroscopy characterization of Al2O3/GaSb interface evolution

    Beteiligte:

    McDonnell, S. (Autor:in) / Zhernokletov, D. M. (Autor:in) / Kirk, A. P. (Autor:in) / Kim, J. (Autor:in) / Wallace, R. M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 257 ; 8747-8751

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2011

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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