Depth-resolved residual stress analysis of thin coatings by a new FIB-DIC method: Fid-Bau Portal

Depth-resolved residual stress analysis of thin coatings by a new FIB-DIC method

Sebastiani, M. / Eberl, C. / Bemporad, E. / Pharr, G. M.

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Titel:

Depth-resolved residual stress analysis of thin coatings by a new FIB-DIC method

Beteiligte:

Sebastiani, M. (Autor:in) / Eberl, C. (Autor:in) / Bemporad, E. (Autor:in) / Pharr, G. M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A ; 528 ; 7901-7908

Erscheinungsdatum:

01.01.2011

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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