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Residual Stress Analysis of Textured Materials by X-Ray Diffraction Method

Ejiri, S. / Sasaki, T. / Hirose, Y.

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Titel:

Residual Stress Analysis of Textured Materials by X-Ray Diffraction Method

Beteiligte:

Ejiri, S. (Autor:in) / Sasaki, T. (Autor:in) / Hirose, Y. (Autor:in) / Chandra, T. / Ionescu, M. / Mantovani, D.

Erschienen in:

THERMEC 2011 ; 1673-1678

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 706/709

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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