X-ray diffraction analysis of residual stresses in textured ZnO thin films: Fid-Bau Portal

X-ray diffraction analysis of residual stresses in textured ZnO thin films

Dobročka, E. / Novák, P. / Búc, D. / Harmatha, L. / Murín, J.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

X-ray diffraction analysis of residual stresses in textured ZnO thin films

Dobročka, E. / Novák, P. / Búc, D. / Harmatha, L. / Murín, J.

X-ray diffraction analysis of residual stresses in textured ZnO thin films

Dobročka, E. / Novák, P. / Búc, D. / Harmatha, L. / Murín, J.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

X-ray diffraction analysis of residual stresses in textured ZnO thin films

Beteiligte:

Dobročka, E. (Autor:in) / Novák, P. (Autor:in) / Búc, D. (Autor:in) / Harmatha, L. (Autor:in) / Murín, J. (Autor:in)

Erschienen in:

Applied surface science ; 395 ; 16-23

Erscheinungsdatum:

01.01.2017

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.44

Dobročka, E. / Novák, P. / Búc, D. et al. | British Library Online Contents | 2017

Residual Stresses in Polycrystalline Thin Films

Scardi, P. / Dong, Y. H. | British Library Online Contents | 2000

Evaluation of Residual Stress in Fiber-Textured Films by X-Ray Diffraction

Zhang, J.-M. / Xu, K.-W. / Ji, V. | British Library Online Contents | 2006

Qualitative X-ray diffraction analysis of residual stresses in NdNiO3 thin films with metal-insulator transition

Zaghrioui, M. / Laffez, P. / Goudeau, P. et al. | British Library Online Contents | 2002

Residual stress in fiber-textured thin films of cubic materials

Scardi, P. / Dong, Y. H. | British Library Online Contents | 2001

Nach oben