Defects in TiO2 films on p^+-Si studied by positron annihilation spectroscopy: Fid-Bau Portal

Defects in TiO2 films on p^+-Si studied by positron annihilation spectroscopy

Coleman, P. G. / Edwardson, C. J. / Zhang, A. / Ma, X. / Pi, X. / Yang, D.

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Titel:

Defects in TiO2 films on p^+-Si studied by positron annihilation spectroscopy

Beteiligte:

Coleman, P. G. (Autor:in) / Edwardson, C. J. (Autor:in) / Zhang, A. (Autor:in) / Ma, X. (Autor:in) / Pi, X. (Autor:in) / Yang, D. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B ADVANCED FUNCTIONAL SOLID STATE MATERIALS ; 177 ; 625-628

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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